<装置の概要>

 放電形式に誘導結合方式(Inductively Coupled Plasma)を採用したMEMS、電子部品用途のボッシュプロセスに対応した高速シリコンディープエッチング装置です。
 ロバートボッシュ社(独)が有するシリコンディープエッチングに関する特許をライセンス導入しており、MEMSに求められるシリコンの高速かつ高異方性エッチングに対応した高速シリコンディープエッチング装置です。

<装置の仕様>

<利用例>

エッチングする材料 SiNx
エッチングに使うガス SF6、CF4
エッチングのマスク フォトレジスト
エッチングする膜厚 20nm
エッチングする材料 Si
エッチングに使うガス C4F8、SF6、O2
エッチングのマスク SiO2膜
エッチングする膜厚 300μm~325μm
エッチングする材料 Si
エッチングに使うガス SF6、C4F8、Ar
エッチングのマスク レジスト
エッチングする膜厚 3μm

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